薄膜膜厚计
特点:
氧化铝膜、各种高分子材料、涂料膜和金属材料上的绝缘层等一般的膜厚计不能册的，适用于厚度为0.1 mm以上基体的镀膜。
说明:特别用于氧化铝工厂和易拉罐工厂等的使用。 测定范围: 测定方法 导电率式 测定对象 金属上的绝缘层 测定范围 0.-40μm （比重为1时） 探头 曲面测定用 表示方法 指针式 电源 AV100V（50/60HZ） 体积 190（W）×210（D）×100（H） 重量 1.7Kg
测定范围: 测定方法 导电率式 测定对象 金属上的绝缘层 测定范围 0.-40μm （比重为1时） 探头 曲面测定用 表示方法 指针式 电源 AV100V（50/60HZ） 体积 190（W）×210（D）×100（H） 重量 1.7Kg
测定方法
导电率式
测定对象
金属上的绝缘层
测定范围
0.-40μm （比重为1时）
探头
曲面测定用
表示方法
指针式
电源
AV100V（50/60HZ）
体积
190（W）×210（D）×100（H）
重量
1.7Kg
